X射線衍射儀XRD幫助我們了解物質(zhì)的特性和射線的走向。我們用它主要是分析物質(zhì)成分和元素特性。結(jié)晶度用來表示聚合物中結(jié)晶區(qū)域所占的比例，聚合物結(jié)晶度變化的范圍很寬，一般從30%～80%。而我們研究物質(zhì)的結(jié)晶度是為了確定物質(zhì)的結(jié)構(gòu)組成和分子排列。

　　X射線衍射儀XRD采用θ/2θ掃描方式,X射線光管固定,可以顯著提高衍射儀的穩(wěn)定性,樣品臺(tái)與探測(cè)器采用θ/2θ掃描方式滿足多功能的分析測(cè)試的要求;衍射儀的整體配置技術(shù)z為成熟,穩(wěn)定性較高,維護(hù)費(fèi)用z低。

　　1.該衍射儀采用的高壓發(fā)生器為可控硅高壓發(fā)生器,該高壓發(fā)生器具有較強(qiáng)的抗電流尖峰干擾的能力;

　　2.獨(dú)立的X射線光管控制系統(tǒng),僅在測(cè)試過程中產(chǎn)生高壓,提高光管使用壽命的同時(shí),也降低了操作人員接觸X射線輻照的幾率;.

　　3.該衍射儀具有標(biāo)配的測(cè)角儀回?cái)[功能,其他品牌通常為選配功能。

　　X射線衍射儀XRD主要部件包括4部分：

　　(1)高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。

　　(2)樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。

　　(3)檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。

　　4)衍射圖的處理分析系統(tǒng)都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。